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熱阻測(cè)試儀

產(chǎn)品介紹

該測(cè)試設(shè)備適用于IGBT、SiC MOSFET、GaN、和Diode，可全面評(píng)估功率半導(dǎo)體器件的熱特性，幫助功率半導(dǎo)體生產(chǎn)廠家與應(yīng)用廠家加速其產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)速度。

產(chǎn)品功能
自動(dòng)化K系數(shù)標(biāo)定
瞬態(tài)熱阻抗測(cè)量
結(jié)構(gòu)函數(shù)分析
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用模塊化設(shè)計(jì)
可自由搭配組件
測(cè)試電源每個(gè)模組300A/10V
最大可配置3個(gè)模組
配備4個(gè)獨(dú)立測(cè)試工位
產(chǎn)品規(guī)格表