該測試平臺(tái)主要用于加速功率半導(dǎo)體器件的老化速度，可將其10-30年的運(yùn)行壽命縮短至3個(gè)月以內(nèi)，并且在老化過程中，實(shí)時(shí)全方位電熱性能的監(jiān)測，深度評估被測功宰半導(dǎo)體的可靠性與壽命…

該探頭主要用于精準(zhǔn)在線獲取功率半導(dǎo)體器件的健康狀態(tài)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，可同時(shí)監(jiān)測單個(gè)模塊、半橋模塊、單相全橋模塊以及三相全橋模塊。基于監(jiān)測信息，可對功率半導(dǎo)體器件的在線運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行評估，預(yù)測其剩余壽命，提升電氣設(shè)備的可靠性…

該軟件主要用于功率半導(dǎo)體模塊多層結(jié)構(gòu)的熱阻抗特性分析，根據(jù)功率半導(dǎo)體器件溫度測量平臺(tái)所獲得的動(dòng)態(tài)溫度信息，精準(zhǔn)計(jì)算出功率半導(dǎo)體的熱阻熱容參數(shù)，評估其散熱性能…